半导体和风洞实验怎么做高清粒子可视化？KATO KOKEN KLM-600FC专用发光光源

更新时间：2026-07-06

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一、两大行业粒子可视化现存痛点

航空风洞流体实验、半导体无尘洁净检测，都需要精准捕捉微小粒子运动轨迹，传统照明方案缺陷明显：

日本 KATO KOKEN 加藤光研推出KLM-600FC 可视化荧光光源，以 Class1 安全等级实现对标 Class4 激光的成像效果，一站式适配流体科研、半导体洁净检测场景。

先通过完整规格表直观了解设备硬件配置，适配工业、实验室长期稳定运行需求：

参数项目 规格详情

从光学特性来看，黄色光对比白光流体顺向穿透性更强，可在大范围空间维持均匀亮度；水汽、雾气环境下不易产生反光干扰，能完整捕捉示踪粒子运动轨迹。

搭配上表中 3 米长柔性光纤光学头，可三脚架固定，自由调整光照距离与角度，风洞、水路、搅拌工况均可重复布设实验光路。

设备内部全密闭遮光封装，无激光外泄风险，安全等级等同于 Class1 激光产品。

对比传统 Class3B/4 大功率激光，无需单独激光防护隔间，上表参数里 0~40℃宽温工作区间，可直接部署在管控严格的半导体洁净车间。

常规 LED 光源输出光片薄度、亮度不足，很难拍出合格粒子图像，无法完成流速矢量计算。

KLM-600FC 可输出均匀薄型高亮度光片，近距离打光也能清晰捕捉气流、水流粒子画面，完的美的匹配平面 PIV 实验，是航空风洞流场解析的核心配套照明。

设备搭载光量反馈补偿功能，长时间连续照射亮度无衰减，超长使用寿命适配生产线常态化检测、科研长期不间断实验，大幅降低设备更换成本。

适配场景：风洞气流观测、水路流体模拟、喷流 / 搅拌流场可视化、PIV 流速解析

结合参数优势：宽幅 AC100-240V 电压适配各地实验室，强制风冷支持连续数小时实验；黄光均匀光片完整还原气流轨迹，Class1 安全标准支持多人同步观测实验。

行业需求：无尘车间需识别 0.3μm 悬浮微小颗粒物，管控晶圆生产洁净度

设备适配性：无需激光安全审批，可直接投入洁净产线；黄色光不受车间水汽干扰，清晰可视化空气中漂浮杂质，快速溯源产线污染缺陷。

除核心两大行业外，还可用于水路流体测试、化工搅拌实验、喷流模拟、各类无尘实验室颗粒物观测，一台设备覆盖流体可视化、PIV 图像解析、洁净度检测三大需求。

KATO KOKEN KLM-600FC 可视化发光光源，依靠上表完整稳定的硬件参数、独特黄光光学技术，平衡了成像精度与使用安全性，完的美的解决风洞流体 PIV 测试、半导体洁净室异物可视化两大行业痛点，是科研院所、芯片制造企业的高性能可视化照明优选设备