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大塚OTSUKA Yamato玻璃塑料基材 薄膜测厚仪SM-100S / SM-100P,适用于平整表面的样品,如薄膜、玻璃等快速验证不同工艺参数下的薄膜厚度。
更新时间:2026-06-10大塚SM-100光学干涉法无损薄膜厚度测量仪SM-100S / SM-100P,适用于平整表面的样品,如薄膜、玻璃等快速验证不同工艺参数下的薄膜厚度。
更新时间:2026-06-10Yamato Scientific 膜厚计 涂层厚度检测仪SM-100S Standard,适用于平整表面的样品,如薄膜、玻璃等快速验证不同工艺参数下的薄膜厚度。
更新时间:2026-06-10Otsuka Yamato智能膜厚计SM-100P Pro测厚仪,适用于平整表面的样品,如薄膜、玻璃等快速验证不同工艺参数下的薄膜厚度。
更新时间:2026-06-10