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IKEUCHI VP系列陶瓷狭角喷嘴:攻克半导体晶圆顽固微粒残留难题

更新时间:2026-04-16      浏览次数:47
在半导体封装工艺中,晶圆清洗是确保良率的关键防线。然而,许多工厂面临着一个两难的困境:既要保护芯片表面的钝化层不被高压损伤,又要强力清除特定区域的顽固微粒。
本文将详细介绍雾之池内(H. Ikeuchi)如何利用其明星产品——VP系列扇形喷嘴,帮助客户在不更改现有设备参数的情况下,完的美的解决了这一痛点。

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1. 客户现场:精密清洗的“双重标准"


某半导体封装工厂在投入生产前,需对晶圆进行纯水高压喷雾清洗。


  • 现状A(易清洗): 晶圆表面覆盖有聚酰亚胺材质的“钝化层"(Passivation),此处微粒容易去除,且耐受高压。

  • 现状B(难清洗): 在TEG(测试素子群)引线键合焊盘(Bonding Pad)未覆盖钝化层的开口部,微粒一旦附着,极难剥离。


客户急需提升清洗力,但提出了一个硬性限制:绝对不能改变现有的压力、流量及喷嘴安装高度。

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2. 解决方案:锁定雾之池内 VP系列


面对这一严苛要求,常规的增加水压或调整设备高度方案被否决。我们的技术团队经过现场评估,决定从“流体角度"入手,选用了雾之池内 VP系列(扇形喷嘴)


优化逻辑:


  • 现状分析: 客户原使用喷嘴的喷雾角度为 40°

  • 技术策略: 在不改变压力、流量和距离的前提下,喷雾角度越小,液滴撞击表面的打击力(Impact Force)越大

  • 产品选择: 我们为客户选用了VP系列中的更窄角度型号。该系列喷嘴的核心优势在于其喷孔部位采用了耐磨陶瓷(Ceramic)材质,这为后续的长期运行打下了基础。

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3. 核心优势:为何是 VP系列?


这次方案的成功,离不开VP系列产品的两大核心特性:


  • 精准的打击力控制: 通过将喷雾角度由40°调整为更窄的角度,我们在不改动设备硬件的情况下,显著提升了喷雾粒子对晶圆表面的冲击力,从而有效剥离了开口部的顽固微粒。

  • 卓的越的耐磨损性: 半导体清洗通常使用高纯度纯水,长期高压冲刷对喷嘴材质要求极的高。VP系列的陶瓷喷孔具有极的佳的耐摩耗性,确保了喷嘴孔径在长期使用中不变形,既保证了清洗效果的稳定性,又实现了产品的长寿命化。


4. 实施成效:从测试到量产


该方案实施后,取得了立的竿的见的影的效果:


  • 清洗效果: 清洗测试结果显示,原本难以去除的开口部微粒被高效清除,良率风险大幅降低。

  • 设备寿命: 陶瓷材质的耐用性获得了客户的高度评价,减少了频繁更换喷嘴的维护成本。

  • 项目进展: 目前,该清洗方案已通过验证,正处于即将搭载于量产设备的关键阶段。


5. 结语


这个案例证明了,在半导体精密制造领域,选对喷嘴型号往往比盲目增加设备功率更有效

雾之池内 VP系列陶瓷喷嘴凭借其独特的流体设计和耐磨材质,成功在不改变客户原有设备参数的限制下,实现了清洗力强化与长寿命的双重突破,为半导体晶圆的高质量生产提供了坚实保障。





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